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| Issue Date | Title | Author(s) |
|---|---|---|
| 2005 | 兩個關於晶圓製造及測試程序的產能與良率之問題及解決方法 | 洪士程; Horng Shih-Cheng; 林心宇; Lin Shin-Yeu; 電控工程研究所 |
| 2011 | 應用漫射光學檢測系統改善 LCD Cell 製程真偽缺陷偵測準確度 | 孫世英; Sun, Shih-Ying; 鄭泗東; Cheng, Stone; 平面顯示技術碩士學位學程 |
| 2012 | 資料探勘技術在晶圓針測誤宰分析之應用 | 丁世杰; 劉敦仁; 理學院應用科技學程 |