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公開日期標題作者
1-十二月-2011Capability Assessment for Processes with Multiple Characteristics: A Generalization of the Popular Index C-pkPearn, W. L.; Shiau, J. -J. H.; Tai, Y. T.; Li, M. Y.; 統計學研究所; 工業工程與管理學系; Institute of Statistics; Department of Industrial Engineering and Management
1999CMP拋光參數之研究與探討林義文; I-Wen Lin; 鄭璧瑩; Pi-Ying Cheng; 機械工程學系
1-一月-2018A Direct-solution Fuzzy Collaborative Intelligence Approach for Yield Forecasting in Semiconductor ManufacturingWang, Yi-Chi; Chen, Tin-Chih Toly; 工業工程與管理學系; Department of Industrial Engineering and Management
1-七月-2012An Effective Powerful Test for Supplier Selection Evaluation with Multiple CharacteristicsPearn, W. L.; Tai, Y. T.; Wang, C. Y.; 工業工程與管理學系; Department of Industrial Engineering and Management
1-十一月-2011An Effective Test for Supplier Selection Evaluation with Multiple CharacteristicsTai, Y. T.; Pearn, W. L.; You, S. K.; 工業工程與管理學系; Department of Industrial Engineering and Management
1-十月-1996Harvest rate of reconfigurable pipelinesShi, WP; Chang, MF; Fuchs, WK; 資訊工程學系; Department of Computer Science
1998IC製造業應用學習曲線於成本模式之研究陳冠羽; Guan-Yue Chen; 楊金福; Chin-Fu Yang; 工業工程與管理學系
1-二月-2019Modified weighted standard deviation index for adequately interpreting a supplier's lognormal process capabilityLiao, Mou-Yuan; Pearn, W. L.; 工業工程與管理學系; Department of Industrial Engineering and Management
1-九月-2007Multilevel full-chip routing with testability and yield enhancementLi, Katherine Shu-Min; Chang, Yao-Wen; Lee, Chung-Len; Sul, Chauchin; Chen, Jwu E.; 交大名義發表; 電控工程研究所; National Chiao Tung University; Institute of Electrical and Control Engineering
2002Process quality analysis of productsChen, KS; Chen, SC; Li, RK; 工業工程與管理學系; Department of Industrial Engineering and Management
2005以交連線為中心加強系統晶片可測試性及良率之震盪環結構與演算法李淑敏; Katherine Shu-Min Li; 李崇仁; Prof. Chung Len Lee; 電子研究所
2007半導體化學氣相沉積厚度預測之研究蔡智豪; 林昇甫; 莊仁輝; 資訊學院資訊學程
2001單邊規格產品族製程能力指標陳水泉; shui-chuan chen; 李榮貴; 陳坤盛; R. K. Li; K.S. Chen; 工業工程與管理學系
2008多變量製程能力指標之研究李婉慈; Lee, Wan-Tsz; 洪志真; 彭文理; Horng, Jyh-Jen Shiau; Pearn, W. L.; 統計學研究所
1998晶圓製造廠微影黃光區再加工策略與派工法則之研究林世星; Lin Shih Hsing; 沙永傑; Sha Yung Jye; 工業工程與管理學系
1994熱電子之量子益得與GASB/ALSB/INAS電晶體之研究許志強; Xu, Zhi-Qiang; 陳振芳; Chen, Zhen-Fang; 電子物理系所
1995積體電路生產線上各檢驗站缺陷數與產品良率關聯性之研究黃建隆; Huang, Chien-Lung; 唐麗英, 李威儀; Tong Lee-Ing, Lee Wei-I; 工業工程與管理學系
1999積體電路生產線上結合缺陷數與缺陷群聚之Hotelling T2多變量管制圖吳炤華; Wu Chao-Hwa; 唐麗英; Prof. Lee-Ing Tong; 工業工程與管理學系
1998考慮缺陷來源與群聚現象之積體電路良率模式傅旭正; Hsu-Cheng Fu; 唐麗英; Tong Lee-Ing; 工業工程與管理學系
2009號誌化交岔路口車輛右轉禮讓行人衡量方法之研究蔡筱葳; Tsai, Hsiao-Wei; 吳水威; Wu, Shoei-Uei; 運輸與物流管理學系
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