薄氧化層中漏電流與Soft Breakdown特性與機制研究

Date

Authors

Keywords

氧化層漏電流 , 快閃式記憶體 , 軟性崩潰 , 電荷傳導 , SILC , Flash EEPROM , Soft breakdown , Charge transport

URI

https://www.grb.gov.tw/search/planDetail?id=542124&docId=99588
https://ir.lib.nycu.edu.tw/handle/11536/101116

Collections

研究計畫;;Research Plans