薄氧化層中漏電流與Soft Breakdown特性與機制研究

Date

Authors

Keywords

氧化層漏電流, 快閃式記憶體, 軟性崩潰, 電荷傳導, SILC, Flash EEPROM, Soft breakdown, Charge transport

URI

https://www.grb.gov.tw/search/planDetail?id=542124&docId=99588
https://ir.lib.nycu.edu.tw/handle/11536/101116

Collections

研究計畫;;Research Plans