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從環繞於IC設計與製造資料所發展的智慧製造設計自動化研究-子計畫六:以電路特徵與行為的資料分析來探討硬體特洛伊的植入、偵測及預防之研究
從環繞於IC設計與製造資料所發展的智慧製造設計自動化研究-子計畫六:以電路特徵與行為的資料分析來探討硬體特洛伊的植入、偵測及預防之研究
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Date
2016
Authors
吳凱強
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Publisher
DOI
Abstract
Description
Keywords
,
Citation
URI
https://www.grb.gov.tw/search/planDetail?id=11895743&docId=490015
https://ir.lib.nycu.edu.tw/handle/11536/131925
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