| Title: | 鰭狀場效電晶體 (FinFET) 電路之錯誤模型與測試方法 Fault Modeling and Test Methods for FinFET Ciricuits |
| Authors: | 趙家佐 Chao Mango Chia-Tso 國立交通大學電子工程學系及電子研究所 |
| Issue Date: | 2014 |
| Gov't Doc #: | NSC102-2221-E009-187-MY3 |
| URI: | http://hdl.handle.net/11536/100584 https://www.grb.gov.tw/search/planDetail?id=8107291&docId=428773 |
| Appears in Collections: | Research Plans |
- 鰭狀場效電晶體 (FinFET) 電路之錯誤模型與測試方法 / 趙家佐;Chao Mango Chia-Tso
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