線狀特徵擷取與模式基礎之局部相似性測度

Abstract

本篇論文以邊值為基礎，提出一套方蹤式的線狀特徵擷取法，此擷取法適用於各種不 同的幾何外形，如迴路、分叉線等。利用擷取所得之線狀特徵建立模式，取得充裕的 資料來做局部比對。經由實驗證明本論文的做法確實可行。