Title: | 隨機性可測度計量與估算偵錯涵蓋率之應用 |
Authors: | 李榮源 LI, RONG-YUAN 李崇仁 沈文仁 LI, CHONG-REN SHEN, WEN-REN 電子研究所 |
Keywords: | 隨機性;可測度計量;估算;偵錯涵蓋率 |
Issue Date: | 1985 |
Abstract: | 本文闡述一個對於組合電路的隨機性可測度計量之定義。此定義已寫成程式,其複雜 度與電路的大小成線性增加,並叮用來估算有限個測試長度的偵錯涵蓋率。 |
URI: | http://140.113.39.130/cdrfb3/record/nctu/#NT742430042 http://hdl.handle.net/11536/52448 |
Appears in Collections: | Thesis |