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National Chiao Tung University Institutional Repository
瀏覽 的方式： 作者 Chen, Chien-Kwen
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公開日期
標題
作者
1-Dec-2006
Analysis of poly-Si TFT degradation under gate pulse stress using the slicing model
Tai, Ya-Hsiang
;
Huang, Shih-Che
;
Chen, Chien-Kwen
;
光電工程學系
;
顯示科技研究所
;
Department of Photonics
;
Institute of Display
