標題: 平均磨損演算法的自我調整策略
On-Line Self Tuning for Wear-Leveling Algorithms
作者: 黃莉君
Huang, Li-Chun
張立平
Chang, Li-Pin
資訊科學與工程研究所
關鍵字: 快閃記憶體;平均磨損演算法;NAND flash memory;wear lveling
公開日期: 2009
摘要: 平均磨損演算法能夠使快閃記憶體上的區塊能夠平均被磨損,解決快閃記憶體的endurance問題。但是區塊的磨損程度的平均與否大多是由平均磨損演算法內所使用的Threshold值所控制。但是平均磨損演算法的效果在不同的軟硬體條件可能會不相同,而且不同的環境對於平均磨損演算法的需求也一定不相同,使用一個固定的Threshold值來並沒有辦法發揮演算法的最佳效能。因此本研究針對平均磨損演算法在不同的軟硬體條件之下,提出了一個創新的方法,結合了實際的測量和理論的推導,該方法可以在短時間就能快速估計出成本和效果的對應關係,為平均磨損演算法決定出適合當時環境的Threshold值,使其達到一個效果與成本之間的良好平衡狀態。在最後的實驗中,可以看出我們所提出的方法所估計出的結果比其它的對照方法都還要接近實際情況且執行快速,因此能讓平均磨損演算法隨時都發揮最佳的效果,使快閃記憶體的壽命有效延長。
URI: http://140.113.39.130/cdrfb3/record/nctu/#GT079755618
http://hdl.handle.net/11536/45964
顯示於類別:畢業論文


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