橢圓偏光儀之異向晶體量測

標題:	橢圓偏光儀之異向晶體量測 PSA Ellipsometric Measurements on Anisotropic Material
作者:	趙于飛交通大學光電工程研究所
關鍵字:	非等向性材料;橢圓偏光儀;雙折射晶體;Anisotropic material;Ellipsometry;Anisotropic crystal
公開日期:	1999
官方說明文件#:	NSC88-2112-M009-040
URI:	http://hdl.handle.net/11536/94263 https://www.grb.gov.tw/search/planDetail?id=418163&docId=74179
顯示於類別：	研究計畫

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