標題: | 以非線性光譜顯微術探討鐵電與鐵磁薄膜的結構與物性(I) Scanning Nonlinear Optical Spectromicroscopic Studies of Ferroelectric and Ferromagnetic Thin Films (I) |
作者: | 黃中垚 JUNG Y.HUANG 交通大學光電工程研究所 |
關鍵字: | 克爾效應;掃描探測顯微鏡;鐵電性;鐵磁性;磁域;非線性光學;Kerr effect;Scanning probe microscopy;Ferroelectricity;Ferromagnetism;Magnetic domain;Nonlinear optics |
公開日期: | 1999 |
官方說明文件#: | NSC88-2112-M009-038 |
URI: | http://hdl.handle.net/11536/94547 https://www.grb.gov.tw/search/planDetail?id=428649&docId=76702 |
顯示於類別: | 研究計畫 |