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Item type:Item, 全像高分子材料之新穎體積全像紀錄研究與相關光資訊應用(2014) ;林烜輝 ;LIN SHIUAN-HUEI國立交通大學電子物理學系(所)本計晝旨在探索『新穎體積全像紀錄技術以及其應用於光資訊之研究』,内容包括兩大 項目:(1).研製低收縮高分子體積全像材料,進行新穎的全像紀錄機制與特性研究,並針對相 關光資訊應用進行材料特性研發。(2).研究體積全像技術於前瞻光資訊之應用,著重於資訊儲 存媒體、3D顯示器元件以及全像光學元件等方向。 在低收縮高分子體積全像材料方面,將承續實驗室研發之PQ/PMMA高分子體積全像材 料的經驗及技術,首先完善兩階段熱聚合製程的技術,發展高光學品質的塊材製程,其次, 著重於兩種新穎的全像記錄方式研究:偏極化全像與雙波長全像。我們將以實驗進行光化學 分析,研究其記錄的物理機制,提供全像紀錄理論模型建立之基礎,且同時建立各式量測系 統進行相關光學實驗分析,量測全像記錄特性,配合相關記錄機制理論模擬比較,建立材料 參數提供規範制定與取捨,探索及設計其在光學資訊處理的相關應用。 在光資訊應用方面,將以實驗室建立體積全像技術出發,配合材料的研發,進行全像資 訊儲存媒體、3D顯示器元件以及全像光學元件等前瞻性研究。首先,根據偏極化全像紀錄特 性,研究偏極化資訊編碼及儲存多工之可行性,以增加資訊儲存的安全性及容量;其次,配 合材料低收縮紀錄特性,結合實驗室以往研究液晶3D顯示面板的基礎,進行液晶顯示器次 微米驅動特性,以及重建穿透式全像所需空間同調重建光源的研究,並以體積全像設計製作, 以實驗展示單色的穿透式全像3D顯示面板;根據極化全像紀錄之重建極化方向及雙波長全 像紀錄之選擇性紀錄兩個特殊特性,進行圓偏振極化分光器及積體化窄頻寬光學濾波器等新 穎全像光學元件之研究。 綜合理論與實驗之執行,吾人預期可以得到許多關鍵性成果,作為後續整合發展全像資 訊儲存處理、全像3D影像顯示系統以及全像光學元件的重要基礎。Item type:Item, 全像高分子材料之新穎體積全像紀錄研究與相關光資訊應用(2013) ;林烜輝 ;LIN SHIUAN-HUEI國立交通大學電子物理學系(所)本計晝旨在探索『新穎體積全像紀錄技術以及其應用於光資訊之研究』,内容包括兩大 項目:(1).研製低收縮高分子體積全像材料,進行新穎的全像紀錄機制與特性研究,並針對相 關光資訊應用進行材料特性研發。(2).研究體積全像技術於前瞻光資訊之應用,著重於資訊儲 存媒體、3D顯示器元件以及全像光學元件等方向。 在低收縮高分子體積全像材料方面,將承續實驗室研發之PQ/PMMA高分子體積全像材 料的經驗及技術,首先完善兩階段熱聚合製程的技術,發展高光學品質的塊材製程,其次, 著重於兩種新穎的全像記錄方式研究:偏極化全像與雙波長全像。我們將以實驗進行光化學 分析,研究其記錄的物理機制,提供全像紀錄理論模型建立之基礎,且同時建立各式量測系 統進行相關光學實驗分析,量測全像記錄特性,配合相關記錄機制理論模擬比較,建立材料 參數提供規範制定與取捨,探索及設計其在光學資訊處理的相關應用。 在光資訊應用方面,將以實驗室建立體積全像技術出發,配合材料的研發,進行全像資 訊儲存媒體、3D顯示器元件以及全像光學元件等前瞻性研究。首先,根據偏極化全像紀錄特 性,研究偏極化資訊編碼及儲存多工之可行性,以增加資訊儲存的安全性及容量;其次,配 合材料低收縮紀錄特性,結合實驗室以往研究液晶3D顯示面板的基礎,進行液晶顯示器次 微米驅動特性,以及重建穿透式全像所需空間同調重建光源的研究,並以體積全像設計製作, 以實驗展示單色的穿透式全像3D顯示面板;根據極化全像紀錄之重建極化方向及雙波長全 像紀錄之選擇性紀錄兩個特殊特性,進行圓偏振極化分光器及積體化窄頻寬光學濾波器等新 穎全像光學元件之研究。 綜合理論與實驗之執行,吾人預期可以得到許多關鍵性成果,作為後續整合發展全像資 訊儲存處理、全像3D影像顯示系統以及全像光學元件的重要基礎。Item type:Item, 全像高分子材料之新穎體積全像紀錄研究與相關光資訊應用(2012) ;林烜輝 ;LIN SHIUAN-HUEI國立交通大學電子物理學系(所)本計晝旨在探索『新穎體積全像紀錄技術以及其應用於光資訊之研究』,内容包括兩大 項目:(1).研製低收縮高分子體積全像材料,進行新穎的全像紀錄機制與特性研究,並針對相 關光資訊應用進行材料特性研發。(2).研究體積全像技術於前瞻光資訊之應用,著重於資訊儲 存媒體、3D顯示器元件以及全像光學元件等方向。 在低收縮高分子體積全像材料方面,將承續實驗室研發之PQ/PMMA高分子體積全像材 料的經驗及技術,首先完善兩階段熱聚合製程的技術,發展高光學品質的塊材製程,其次, 著重於兩種新穎的全像記錄方式研究:偏極化全像與雙波長全像。我們將以實驗進行光化學 分析,研究其記錄的物理機制,提供全像紀錄理論模型建立之基礎,且同時建立各式量測系 統進行相關光學實驗分析,量測全像記錄特性,配合相關記錄機制理論模擬比較,建立材料 參數提供規範制定與取捨,探索及設計其在光學資訊處理的相關應用。 在光資訊應用方面,將以實驗室建立體積全像技術出發,配合材料的研發,進行全像資 訊儲存媒體、3D顯示器元件以及全像光學元件等前瞻性研究。首先,根據偏極化全像紀錄特 性,研究偏極化資訊編碼及儲存多工之可行性,以增加資訊儲存的安全性及容量;其次,配 合材料低收縮紀錄特性,結合實驗室以往研究液晶3D顯示面板的基礎,進行液晶顯示器次 微米驅動特性,以及重建穿透式全像所需空間同調重建光源的研究,並以體積全像設計製作, 以實驗展示單色的穿透式全像3D顯示面板;根據極化全像紀錄之重建極化方向及雙波長全 像紀錄之選擇性紀錄兩個特殊特性,進行圓偏振極化分光器及積體化窄頻寬光學濾波器等新 穎全像光學元件之研究。 綜合理論與實驗之執行,吾人預期可以得到許多關鍵性成果,作為後續整合發展全像資 訊儲存處理、全像3D影像顯示系統以及全像光學元件的重要基礎。Item type:Item, 新穎體積全像紀錄材料及元件研製與應用研究(2016) ;林烜輝 ;LIN SHIUAN-HUEI國立交通大學電子物理學系(所)Item type:Item, 新穎體積全像紀錄材料及元件研製與應用研究(2015) ;林烜輝 ;LIN SHIUAN-HUEI國立交通大學電子物理學系(所)Item type:Item, 體積全像光學PMMA系列之高分子感光材料研製及其應用研究(II)(2006) ;林烜輝 ;LIN SHIUAN-HUEI交通大學電子物理系Item type:Item, 體積全像光學PMMA系列之高分子感光材料研製及其應用研究(III)(2007) ;林烜輝 ;LIN SHIUAN-HUEI國立交通大學電子物理學系(所)Item type:Item, 體積全像技術用於資訊儲存及三維立體顯示之研究(2011) ;林烜輝 ;LIN SHIUAN-HUEI國立交通大學電子物理學系(所)本計畫旨在探索『體積全像技術用於資訊儲存及三維立體顯示之研究』,內容包括兩大 項目:(1). 研製低收縮高分子體積全像材料,進行新穎的全像紀錄機制與特性研究,並進行 資訊儲存應用研發。(2). 研究全像3D 顯示器技術,著重於基礎的理論與光學系統設計,顯示 器件與光源元件之探討。 在低收縮高分子體積全像材料方面,將承續實驗室研發之PQ/PMMA 高分子體積全像材 料的經驗及技術,首先完善兩階段熱聚合製程的技術,發展高光學品質的塊材製程,其次, 著重於兩種新穎的全像記錄方式研究:偏極化全像與雙波長全像。我們將以實驗進行光化學 分析,研究其記錄的物理機制,提供全像紀錄理論模型建立之基礎,且同時建立各式量測系 統進行相關光學實驗分析,量測全像記錄特性,配合相關記錄機制理論模擬比較,建立材料 參數提供規範制定與取捨,探索及設計其在光學資訊處理的相關應用。 在全像3D 顯示器技術方面,將以實驗室建立體積全像技術出發,進行應用液晶平面顯 示器元件,展示真實立體影像的前瞻性研究。首先,研製大尺寸面積之光感高分子紀錄底片, 進行全像光學紀錄與重建實驗,藉以研究全像顯示器所需各項基本特性,同時研究各類型液 晶顯示面板的相位及振幅調制特性,嚐試顯示實物全像所需各項特性;其次,進行空間同調 重建光源的研究,並以體積全像設計製作,以及研究電腦產生全像技術,設計產生3D 實物 全像片,並加入顯示器參數與波前取樣等因素,模擬其對重建影像品質之影響;最後結合這 些概念,以實驗展示單色的全像3D 顯示器。 綜合理論與實驗之執行,吾人預期可以得到許多關鍵性成果,作為後續整合發展全像資 訊儲存處理以及全像3D 影像顯示系統的重要基礎。Item type:Item, 體積全像記錄材料研製與物理機制分析及其應用(2010) ;林烜輝 ;LIN SHIUAN-HUEI國立交通大學電子物理學系(所)本計劃的目標在探索『摻雜式高分子聚合物的體積全像光學特性』,以此 開發新穎的體積全像記錄光學材料,並探索其在光學資訊領域應用的研究。 研究中將以我們實驗室過去研發之PQ/PMMA 高分子體積全像材料的經 驗及技術為藍本,發展三種新穎的記錄材料:1. PQ 摻雜共基底高分子材料、 2. Irgacure784 光敏感劑摻雜PMMA 高分子材料、3. 摻雜式Epoxy 系列高分子 記錄材料。我們也研究其全像記錄的物理機制,前兩者可以改進現有材料的記 錄特性,第三種材料則為延續成果的新嘗試,三者均可形成塊材,提供新穎的 光學資訊儲存及處理應用。 配合整體計劃之進行,第一階段,致力發展三種材料的研製,並以 PQ/PMMA 材料的體積全像記錄機制為模型,探討新穎材料的記錄機制,且同 時建立各式量測系統進行相關光學實驗分析,為建立材料參數提供規範制定與 取捨;第二階段,著重於材料體積全像記錄特性量測,提供材料改進的依據, 並配合相關記錄機制,探索及設計其在光學資訊處理的相關應用;第三階段為 整合應用階段,結合全像記錄量測與基礎模型分析結果,致力於光學資訊儲存 及處理研究,初步的構想將進行平面式光學系統積體化、體積全像多通道相干 器以及快速圖形識別等新穎應用之開發。 總之,本計劃將對摻雜式高分子體積全像記錄材料的設計、分析及量測做 整體深入的研究,這是體積全像光學材料一個非常基礎的而且也是創新的研 究,藉此探索我們自己的適合的光學資訊處理的體積全像材料。再者,透過詳 細的分析也可進一步探索新的高分子材料之非線性光學特性。Item type:Item, 體積全像記錄材料研製與物理機制分析及其應用(2009) ;林烜輝 ;LIN SHIUAN-HUEI國立交通大學電子物理學系(所)本計劃的目標在探索『摻雜式高分子聚合物的體積全像光學特性』,以此 開發新穎的體積全像記錄光學材料,並探索其在光學資訊領域應用的研究。 研究中將以我們實驗室過去研發之PQ/PMMA 高分子體積全像材料的經 驗及技術為藍本,發展三種新穎的記錄材料:1. PQ 摻雜共基底高分子材料、 2. Irgacure784 光敏感劑摻雜PMMA 高分子材料、3. 摻雜式Epoxy 系列高分子 記錄材料。我們也研究其全像記錄的物理機制,前兩者可以改進現有材料的記 錄特性,第三種材料則為延續成果的新嘗試,三者均可形成塊材,提供新穎的 光學資訊儲存及處理應用。 配合整體計劃之進行,第一階段,致力發展三種材料的研製,並以 PQ/PMMA 材料的體積全像記錄機制為模型,探討新穎材料的記錄機制,且同 時建立各式量測系統進行相關光學實驗分析,為建立材料參數提供規範制定與 取捨;第二階段,著重於材料體積全像記錄特性量測,提供材料改進的依據, 並配合相關記錄機制,探索及設計其在光學資訊處理的相關應用;第三階段為 整合應用階段,結合全像記錄量測與基礎模型分析結果,致力於光學資訊儲存 及處理研究,初步的構想將進行平面式光學系統積體化、體積全像多通道相干 器以及快速圖形識別等新穎應用之開發。 總之,本計劃將對摻雜式高分子體積全像記錄材料的設計、分析及量測做 整體深入的研究,這是體積全像光學材料一個非常基礎的而且也是創新的研 究,藉此探索我們自己的適合的光學資訊處理的體積全像材料。再者,透過詳 細的分析也可進一步探索新的高分子材料之非線性光學特性。Item type:Item, 體積全像記錄材料研製與物理機制分析及其應用(2008) ;林烜輝 ;LIN SHIUAN-HUEI國立交通大學電子物理學系(所)本計劃的目標在探索『摻雜式高分子聚合物的體積全像光學特性』,以此 開發新穎的體積全像記錄光學材料,並探索其在光學資訊領域應用的研究。 研究中將以我們實驗室過去研發之PQ/PMMA 高分子體積全像材料的經 驗及技術為藍本,發展三種新穎的記錄材料:1. PQ 摻雜共基底高分子材料、 2. Irgacure784 光敏感劑摻雜PMMA 高分子材料、3. 摻雜式Epoxy 系列高分子 記錄材料。我們也研究其全像記錄的物理機制,前兩者可以改進現有材料的記 錄特性,第三種材料則為延續成果的新嘗試,三者均可形成塊材,提供新穎的 光學資訊儲存及處理應用。 配合整體計劃之進行,第一階段,致力發展三種材料的研製,並以 PQ/PMMA 材料的體積全像記錄機制為模型,探討新穎材料的記錄機制,且同 時建立各式量測系統進行相關光學實驗分析,為建立材料參數提供規範制定與 取捨;第二階段,著重於材料體積全像記錄特性量測,提供材料改進的依據, 並配合相關記錄機制,探索及設計其在光學資訊處理的相關應用;第三階段為 整合應用階段,結合全像記錄量測與基礎模型分析結果,致力於光學資訊儲存 及處理研究,初步的構想將進行平面式光學系統積體化、體積全像多通道相干 器以及快速圖形識別等新穎應用之開發。 總之,本計劃將對摻雜式高分子體積全像記錄材料的設計、分析及量測做 整體深入的研究,這是體積全像光學材料一個非常基礎的而且也是創新的研 究,藉此探索我們自己的適合的光學資訊處理的體積全像材料。再者,透過詳 細的分析也可進一步探索新的高分子材料之非線性光學特性。