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公開日期標題作者
1985薄氮化氧化膜之熱載子感應的可靠性及在次微米MOS/VLSI應用之最佳製程條件的研究吳亮中; WU, LIANG-ZONG; 吳慶源; WU, GING-YUAN; 電子研究所
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