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瀏覽 的方式： 作者 林玗璇

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公開日期標題作者
2012針對奈米級CMOS設計電路提出考慮導線效應和老化效應的統計型軟性錯誤率分析的方法林玗璇; Lin, Yu-Hsuan; 溫宏斌; Wen, Hung-Pin; 電信工程研究所
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