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公開日期標題作者
2010快閃式記憶體和金氧半電晶體元件中單一電荷所導致的可靠性議題研究馬煥淇; Ma, Huan-Chi; 汪大暉; Wang, Tahui; 電子研究所
2004氮化矽快閃記憶體可靠性量測與分析馬煥淇; Ma, Huan-chi; 汪大暉; Tahui Wang; 電子研究所
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