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| 公開日期 | 標題 | 作者 |
|---|---|---|
| 1988 | 橢圓測試儀在薄膜測量方法上的研究與改進 | 何昭煌; HE, ZHAO-HUANG; 李崇仁; 雷添福; LI, CHONG-REN; LEI, TIAN-FU; 電子研究所 |
| 1982 | 金氧半電晶體之薄閘極氧化層的製作與特性分析 | 何昭煌; He, Zhao-Huang; 李崇仁; 任建葳; Li, Chong-Ren; Ren, Jian-Wei; 電子研究所 |
| 公開日期 | 標題 | 作者 |
|---|---|---|
| 1988 | 橢圓測試儀在薄膜測量方法上的研究與改進 | 何昭煌; HE, ZHAO-HUANG; 李崇仁; 雷添福; LI, CHONG-REN; LEI, TIAN-FU; 電子研究所 |
| 1982 | 金氧半電晶體之薄閘極氧化層的製作與特性分析 | 何昭煌; He, Zhao-Huang; 李崇仁; 任建葳; Li, Chong-Ren; Ren, Jian-Wei; 電子研究所 |