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公開日期標題作者
1998多晶片模組之可測試設計及測試策略曾王道; Wang-Dauh Tseng; 王國禎; 王國禎; 資訊科學與工程研究所
1992超大型積體電路平行結構之可診斷設計與診斷策略曾王道; Zeng, Wang-Dao; 王國禎; Wang, Guo-Zhen; 資訊科學與工程研究所
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