瀏覽 的方式: 作者 林永豪

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1995閘極氧化層可靠性之分析與應用於表面通道P型金氧半場效電晶體之閘極工程林永豪; Lin, Yung-Hao; 李崇仁; 雷添福; Lee, Chung-Len; Lei, Tan-Fu; 電子研究所