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瀏覽 的方式： 作者 楊青維

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2013藉由三維沃爾洛伊圖對於隨機晶格邊界在可堆疊NAND記憶體造成的變異特性之模擬與分析楊青維; Yang, Ching-Wei; 蘇彬; Su, Pin; 電子工程學系 電子研究所
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