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公開日期標題作者
1989多值邏輯之故障測試王慧民; WANG,HUI-MIN; 李崇仁; LI,CHONG-REN; 電子研究所
1994多值邏輯電路的測試及多階級合成之研究王慧民; Hui-Min Wang; 李崇仁; Chung-Len Lee; 電子研究所
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