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dc.contributor.author李美琴en_US
dc.contributor.authorMei-Chin Leeen_US
dc.contributor.author許錫美en_US
dc.contributor.authorHsi-Mei Husen_US
dc.date.accessioned2014-12-12T02:10:13Z-
dc.date.available2014-12-12T02:10:13Z-
dc.date.issued1992en_US
dc.identifier.urihttp://140.113.39.130/cdrfb3/record/nctu/#NT810030025en_US
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11536/56606-
dc.description.abstract由於製程之均值偏移會嚴重影響工件組合後之不良率，所以本研究在進行 公差配置時，以統合模式描述公差堆疊情形，以確實考慮均值偏移對公差 配置之影響 使用製程能力指數Cp及Cpk 來衡量均值偏移之程度，對於連 續型之公差配置問題，使用GINO軟體求此統合模式之最佳公差配置；對於 非連續型之製程選擇問題，以節省成本最大之原則，求其滿足公差堆疊限 制，且成本最低之製程組合本論文將統合模式公差配置之研究，應用於硬 式磁碟機磁頭飛行高度之公差配置問題，以實例說明考率均值偏移下之公 差配置zh_TW
dc.language.isozh_TWen_US
dc.subject均值偏移;公差配置;統合模式zh_TW
dc.subjectmean shift; tolerance allocation; Unified Modelen_US
dc.title均值偏移公差配置問題之探討zh_TW
dc.titleA Study on Mean Shift Tolerance Allocationen_US
dc.typeThesisen_US
dc.contributor.department工業工程與管理學系zh_TW
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