對以智財單元為基系統晶片設計之驗證與測試技術開發研究---子計畫IV:以智財單元為基系統晶片設計之測試技術研究

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Keywords

系統晶片 , 晶片設計 , 測試技術 , System-on-chip (SOC) , Chip design , Test technique

URI

https://www.grb.gov.tw/search/planDetail?id=665767&docId=126390
https://ir.lib.nycu.edu.tw/handle/11536/93688

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研究計畫;;Research Plans