不同型摻雜材料浮動閘極快閃式記憶元件可靠性問題之研究

Files

892218E009110.pdf (253.48 KB)

Date

Authors

Keywords

快閃式記憶體, 可靠度, 浮動閘, 資料持久力, 氧化層傷害, Frash memory, Reliability, Floating gate, Data retention, Oxide damage

URI

https://www.grb.gov.tw/search/planDetail?id=619835&docId=115468
https://ir.lib.nycu.edu.tw/handle/11536/93274

Collections

研究計畫;;Research Plans