下一世代高性能及高可靠性的N通道MOS元件設計及量測技術探討

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982221E009161MY3(第3年).PDF (1.2 MB)

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https://www.grb.gov.tw/search/planDetail?id=2205386&docId=351807
https://ir.lib.nycu.edu.tw/handle/11536/98976

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研究計畫;;Research Plans