半導體裝置結構

dc.citation.patentcountryTWNen_US
dc.citation.patentnumber201721763en_US
dc.contributor.author莊紹勳zh_TW
dc.contributor.author謝易叡zh_TW
dc.contributor.author趙堉斌zh_TW
dc.contributor.author潘正聖zh_TW
dc.date.accessioned2019-04-11T05:58:14Z
dc.date.available2019-04-11T05:58:14Z
dc.date.issued2017-06-16en_US
dc.description.abstract本揭露提供半導體裝置結構與其形成方法。半導體裝置結構包括源極結構於半導體基板中。半導體裝置結構亦包括通道層於半導體基板上。通道層的第一部份覆蓋部份源極結構。通道層的第二部份橫向地延伸出源極結構。半導體裝置結構更包括汲極結構於半導體基板上。汲極結構與源極結構具有不同的導電型態。汲極結構鄰接通道層的第二部份。zh_TW
dc.identifier.govdocH01L021/336en_US
dc.identifier.govdocH01L029/02en_US
dc.identifier.govdocH01L029/66en_US
dc.identifier.govdocH01L029/78en_US
dc.identifier.govdocH01L029/786en_US
dc.identifier.urihttps://ir.lib.nycu.edu.tw/handle/11536/151372
dc.language.isozh_TWen_US
dc.title半導體裝置結構zh_TW
dc.typePatentsen_US

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