超大型積體電路之測試與可測性設計

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Date

Authors

Keywords

靜態電流測試 , 振盪環測試 , 數位測試 , 類比測試 , 非同步序向電路 , 運算放大器 , 內建式電流感測器 , 障礙模型 , IDDQ testing , Oscillating ring testing , Digital testing , Analog testing , Asynchronous sequential circuit , Operational amplifier , Built-in current sensor , Fault model

URI

https://www.grb.gov.tw/search/planDetail?id=542238&docId=99619
https://ir.lib.nycu.edu.tw/handle/11536/102691

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研究計畫;;Research Plans