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低不良率生產下的工具汰換
(2005)
彭文理
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WEN LEAPEARN
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國立交通大學工業工程與管理學系(所)
在製造工業中，工具磨損的費用常常是佔生產成本一個很大的比例。過早做工具汰換會增加成本，相對地；太晚作工具汰換則會導致不良的生產品質。因此；對大部分的工業來說，改善品質且維持低生產本是非常必要的。製程能力指標 pk C 一直被視為良率的基礎指標。在給定一個固定的pk C 下，生產良率和不良的比例可藉由它來計算。在這個計劃中，我們將提出一個透過pk C 來找出工具汰換的最佳時間點之方法。當資料包含可歸屬原因的變異時，正確的製程能力計算是重要的。在很多機器製造的過程裡，工具磨損是一個支配而且無法分離的元素，亦即是一個系統性的可歸屬原因。因為製程的資料被可歸屬原因之變異所影響，所以一般的製程能力測量是不正確的。在考慮製程能力為動態地改變時，我們將探討製程能力指標pk C 之估計式並且推導出精確的統計抽樣分配。此外；並提供在低不良率生產下之製程，如何去找尋工具汰換最佳時間點之程序。最後；我們將會列舉一個例子完整地來說明整個工具汰換之作業程序。
具實用性及交期導向之IC封裝廠排程演算法則之設計與應用
(2001)
彭文理
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國立交通大學工業工程與管理學系
具應用性與優異性之晶圓針測排程問題演算法設計研究
(2000)
彭文理
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國立交通大學工業工程與管理學系
對於超低不良率生產製程的品質良率評估方法之研究
(2004)
彭文理
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國立交通大學工業工程與管理學系
製程良率是目前製造業中最廣為接受的製程績效好壞的判定準則。一個更為先進的製程績效測量公式，稱作品質良率指標 (Y)，接著被提出來。針對任意的製程分配，品質良率的計算方式是把顧客的損失考慮進來。品質良率的基本想法是，以製程良率為基準，當我們所探討的產品特徵偏離目標值的時候，對製程良率作一個處罰的動作。這種作法的用意是，除了傳統的製程良率之外，同時將產品的平均損失也併入考慮。事實上，品質良率可以表示成傳統的良率扣掉落在製程規格內的產品期望相對損失。如此一來，我們便能很成功的把「一個製程是否有辦法重複製造可以滿足顧客的產品」的程度，加以量化表示。在本計劃中，我們提出一個相當可靠的方法來測量品質良率。尤其是針對不良率非常低的高科技產業製程。然而，舊有的品質良率研究僅止於點估計值的計算。但依據點估計值所下的決策缺乏抽樣誤差的考慮因此並不可靠。所以在本計劃中我們希望進一步發展出品質良率的信賴區間下界。品質良率信賴區間下界不但可同時反應出製程之產品不良率與顧客品質損失；而且，在以品質良率作為假設檢定產品是否達到所要求的品質水準時，品質良率信賴區間下界更提供了決策者一個有用且可靠的決策判別準則。
改良型的C/sub pmk/具有非對稱規格區間的製程能力指標
(1999)
彭文理
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交通大學工業工程與管理系
晶圓製造廠爐管區控檔片之單迴圈網路模式
(2001)
彭文理
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國立交通大學工業工程與管理學系
晶圓製造廠爐管區控檔片之多迴圈網路模式
(2002)
彭文理
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交通大學工業工程與管理系
考慮量規測量誤差的單邊規格製程能力測量方法
(2005)
彭文理
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國立交通大學工業工程與管理學系(所)
在製造工業裡，許多產品的重要品質特性是屬於單邊規格的。在單邊規格的情況下，關於製程能力的測量，大家所熟知且廣為應用的製程能力指標，為 PU C 以及 PL C 。文獻上，目前所存在的關於製程能力的研究成果，都是假設在沒有量規測量誤差存在的情況下，所作的製程能力的測量。不幸的是，沒有測量誤差的假設並不符合現實的狀況。即使在量測重要品質特性的資料時，是使用最先進且高度精密的測量工具，仍然無法避免測量誤差的存在。由此觀之，用沒有測量誤差存在的假設，來作出對於製程能力的結論，並不可靠。在本計劃中，我們考慮單邊規格製程能力指標 PU C 以及 PL C 的估計與假設檢定，並且假設了測量誤差的存在。如此一來，我們可以獲得反應真正製程能力，經過校正的 PU C 以及 PL C 的信賴區間下界，以及作為檢定製程能力相當方便的臨界值。本計劃主要的貢獻，在於測量誤差無法避免的情況下，對於工廠的製程是否達到預先設定的製程能力要求，我們可以根據此研究成果作出更為貼近事實且較為可靠的決策。
製程能力指標Cpk之計量值允收抽樣計畫
(2003)
彭文理
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國立交通大學工業工程與管理學系
護理人員排程問題模式之建立與演算法之研究(I)
(2002)
彭文理
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交通大學工業工程與管理系
護理人員排程問題模式之建立與演算法之研究(II)
(2003)
彭文理
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國立交通大學工業工程與管理學系
護理人員排程問題模式之建立與演算法之研究(III)
(2004)
彭文理
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國立交通大學工業工程與管理學系
電子資訊產業供應鏈管理---IC製造業前置時間管理之研究(III)
(2000)
彭文理
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交通大學工業工程與管理系