標題: 全空乏型絕緣層上矽晶金氧半場效電晶體裝置及其製法
作者: 崔秉鉞
林家彬
公開日期: 16-十一月-2006
摘要: 本發明提出一種奈米尺寸之高性能絕緣層上矽晶金氧半場效電晶體裝置及其製法,其特徵在於裝置包括:一金屬氧化物半導體形成於絕緣層上矽晶基板之上;一金屬矽化物層,在閘極方面具有單一之全金屬矽化物閘極、高介電常數介電層以及可調變功函數之部件;在源、汲極部分則具有除了完全反應之金屬矽化物之源、汲極外,以及修正蕭基接面之源極與汲極結構。
官方說明文件#: H01L029/772
URI: http://hdl.handle.net/11536/104134
專利國: TWN
專利號碼: 200640006
顯示於類別:專利資料


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