標題: 絕對延遲時間產生裝置
作者: 李鎮宜
游瑞元
余建螢
陳俊廷
公開日期: 11-五月-2012
摘要: 一種絕對延遲時間產生裝置,由一製程供壓溫度(process-voltage-temperature;PVT)偵測裝置與一延遲時間產生器所構成。PVT偵測裝置包含複數組延遲模組與訊號相位/頻率控制模組,且各該延遲模組復包含對照單元與參照單元,此對照單元與參照單元在延遲特性上對PVT有相異的敏感度。各該延遲模組係用以比對原始訊號分別通過對照單元與參照單元所產生的相位或頻率差異,進而產生各該延遲模組的延遲參數,而訊號相位/頻率控制模組係用以接收並比對各該延遲參數,以標定該絕對延遲時間產生裝置的外部環境PVT狀態,進而控制與校正此延遲時間產生器,產生一精準的絕對延遲時間。透過上述絕對延遲時間產生裝置,受到不同的PVT(process-voltage-temperature)影響下,分析各該延遲模組的延遲參數,以標定當前PVT條件對該絕對延遲時間產生裝置造成的延遲情況,產生精準的絕對延遲時間,可進而產生精準頻率。在PVT改變的情況下,依然能夠保持穩定的準確度。
官方說明文件#: H03K005/06
H03H011/26
URI: http://hdl.handle.net/11536/106007
專利國: TWN
專利號碼: I364165
顯示於類別:專利資料


文件中的檔案:

  1. I364165.pdf

若為 zip 檔案,請下載檔案解壓縮後,用瀏覽器開啟資料夾中的 index.html 瀏覽全文。