次14奈米晶片之即時可靠度監測及壽命延長技術

標題:	次14奈米晶片之即時可靠度監測及壽命延長技術 On-Chip, Real-Time Reliability Monitoring and Lifetime Extension for Sub-14nm ICs
作者:	吳凱強 Wu Kai-Chiang 國立交通大學資訊工程學系（所）
公開日期:	2015
官方說明文件#:	MOST104-2221-E009-169
URI:	http://hdl.handle.net/11536/129945 https://www.grb.gov.tw/search/planDetail?id=11569282&docId=468084
顯示於類別：	研究計畫