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  1. 目前位置:國立陽明交通大學機構典藏
  2. 學術出版
  3. 研究計畫

標題: 下世代單一電晶體動態隨機存取記憶體
Next Generation One-Transistor DRAM
作者: 荊鳳德
CHIN ALBERT
國立交通大學電子工程學系及電子研究所
公開日期: 2015
官方說明文件#: MOST103-2221-E009-178-MY3
URI: http://hdl.handle.net/11536/130143
https://www.grb.gov.tw/search/planDetail?id=11267843&docId=454313
顯示於類別:研究計畫


相關內容
  • IR@NYCU
  • CrossRef
  • 下世代單一電晶體動態隨機存取記憶體 / 荊鳳德;CHIN ALBERT
  • 下世代單一電晶體動態隨機存取記憶體 /
  • 下世代單一電晶體動態隨機存取記憶體 / 荊鳳德;CHIN ALBERT
  • 嵌入式DRAM測試方法 / 趙家佐;Chao Mango Chia-Tso
  • Testing Methodology of Embedded DRAMs / Yang, Hao-Yu;Chang, Chi-Min;Chao, Mango C. -T.;Huang, Rei-Fu;Lin, Shih-Chin
  • 嵌入式動態隨機存取記憶體測試方法 / 張啟銘;趙家佐
  • Low-Leakage-Current DRAM-Like Memory Using a One-Transistor Ferroelectric MOSFET With a Hf-Based Gate Dielectric / Cheng, Chun-Hu;Chin, Albert
  • 應用於近記憶體資料處理系統之高頻寬三維堆疊動態記憶體控制單元 / 林昱諠;黃威;Lin, Yu-Hsuan;Hwang, Wei
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引用(Cite)
APA 荊., & CHIN A. (2015). 下世代單一電晶體動態隨機存取記憶體. https://www.grb.gov.tw/search/planDetail?id=11267843&docId=454313.
Bibtex @article{2015,
    title={下世代單一電晶體動態隨機存取記憶體},
    author={荊鳳德 and CHIN ALBERT},
    journal={https://www.grb.gov.tw/search/planDetail?id=11267843&docId=454313},
    year={2015},
    url={https://ir.lib.nycu.edu.tw/handle/11536/130143},
}