太空電子可測試性及容錯性之研究

標題:	太空電子可測試性及容錯性之研究 Testability and Fault Tolerant of Aexospace Electronic Circuit
作者:	交通大學
關鍵字:	;
公開日期:	1993
摘要:
官方說明文件#:	NSC82-F-SP-009-08
URI:	https://www.grb.gov.tw/search/planDetail?id=18465&docId=2066 http://hdl.handle.net/11536/132148
顯示於類別：	研究計畫