利用高維度子空間產生取樣之方法

Abstract

本發明係為一種利用高維度子空間產生取樣之方法，包括將一向量資料值投影至複數高維度子空間上，以產生複數向量子空間資料值，並取其中具有最大值之向量子空間資料值為最佳向量子空間資料值，並取其所屬子空間的維度，設為基準維度並利用梯度演算，調整其餘子空間，以產生新高維度子空間，再投影出新向量子空間資料值，判斷新向量子空間資料值與向量資料值之比值是大於或等於一預設值，若是，新向量子空間資料值則成為取樣值，若否，則回覆至第一步驟。故，本發明可產生與原始資料相似的取樣資料。