異質接面電晶體的安全操作範圍研究(II)

Title:	異質接面電晶體的安全操作範圍研究(II) Investigation of Safe Operating Area of an HBT(II)
Authors:	李建平 LEE CHIEN-PING 交通大學電子工程系
Issue Date:	2006
Gov't Doc #:	NSC95-2221-E009-274
URI:	http://hdl.handle.net/11536/89263 https://www.grb.gov.tw/search/planDetail?id=1309504&docId=241988
Appears in Collections:	Research Plans

APA	李., & LEE C. (2006). 異質接面電晶體的安全操作範圍研究(II). https://www.grb.gov.tw/search/planDetail?id=1309504&docId=241988.
Bibtex	@article{2006, title={異質接面電晶體的安全操作範圍研究(II)}, author={李建平 and LEE CHIEN-PING}, journal={https://www.grb.gov.tw/search/planDetail?id=1309504&docId=241988}, year={2006}, url={https://ir.lib.nycu.edu.tw/handle/11536/89263}, }