砷化鎵高頻元件銅金屬化研究及可靠性評估

標題:	砷化鎵高頻元件銅金屬化研究及可靠性評估 The Development of Fully Copper Metallized GaAs High Frequency Devices and the Reliability Study
作者:	張翼國立交通大學材料科學與工程學系
公開日期:	2003
官方說明文件#:	NSC92-2215-E009-069
URI:	http://hdl.handle.net/11536/92166 https://www.grb.gov.tw/search/planDetail?id=873569&docId=167365
顯示於類別：	研究計畫

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