| 標題: | 結合外差干涉術與可調波長雷射做絕對距離測量的研究 Absolute Distance Measurements with Heterodyne Interferometry and a Tunable Laser |
| 作者: | 蘇德欽 SU DER-CHIN 交通大學光電工程研究所 |
| 關鍵字: | 多波長干涉術;外差干涉術;絕對距離測量;Multi-wavelength interferometry;Heterodyne interferometry;Absolute distance measurement |
| 公開日期: | 2000 |
| 官方說明文件#: | NSC89-2112-M009-022 |
| URI: | http://hdl.handle.net/11536/93785 https://www.grb.gov.tw/search/planDetail?id=523496&docId=95062 |
| 顯示於類別： | 研究計畫 |
- 外差干涉術在量測s-與p-偏光間相位差變化的應用 / 李朱育;Ju-Yi Lee;蘇德欽;Der-Chin Su
- 以外差干涉術測量葡萄糖溶液之圓偏極折射率及濃度 / 林俊佑;Jiun-You Lin;蘇德欽;Der-Chin Su
- 使用外差干涉儀測量光學常數之研究 / 許正治;Cheng-Chih Hsu;蘇德欽;Der-Chin Su
- Two-wavelength full-field heterodyne interferometric profilometry / Hsieh, Hung-Chih;Chen, Yen-Liang;Jian, Zhi-Chen;Wu, Wang-Tsung;Su, Der-Chin
- 外差疊紋干涉術的原理與其應用之研究 / 張巍耀;Chang, Wei-Yao;許根玉;陳坤煌;Hsu, Ken Y.
- 外差干涉術在中央條紋法的應用與誤差分析 / 吳旺聰;Wu, Wang-Tsung;蘇德欽;Su, Der-Chin
- Step Height Measurement by Using Heterodyne Central Fringe Identification Technique / Wu, W. T.;Hsieh, H. C.;Chen, Y. L.;Chang, W. Y.;Su, D. C.
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