積層式氧化鋅變阻器衰化現象之研究

標題:	積層式氧化鋅變阻器衰化現象之研究 The Study of Degradation Phenomena of Multilayer ZnO Varistor
作者:	曾俊元 TSEUNG-YUENTSENG 國立交通大學電子工程學系
關鍵字:	積層式氧化鋅變阻器;衰化;深陷能階;Multilayer chip ZnO varistor;Degradation;Deep level transient spectroscopy
公開日期:	1996
官方說明文件#:	NSC85-2216-E009-011
URI:	http://hdl.handle.net/11536/95816 https://www.grb.gov.tw/search/planDetail?id=207091&docId=36607
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