標題: 次微米MOS元件中反向短通道效應特性分析與模式
The Characterization and Modeling of the Reverse Short Channel Effect in Submicron MOS Devices
作者: 莊紹勳
Chung Steve S
國立交通大學電子工程研究所
公開日期: 1995
官方說明文件#: NSC84-2215-E009-075
URI: http://hdl.handle.net/11536/96414
https://www.grb.gov.tw/search/planDetail?id=172275&docId=29275
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