標題: | 次微米MOS元件中反向短通道效應特性分析與模式 The Characterization and Modeling of the Reverse Short Channel Effect in Submicron MOS Devices |
作者: | 莊紹勳 Chung Steve S 國立交通大學電子工程研究所 |
公開日期: | 1995 |
官方說明文件#: | NSC84-2215-E009-075 |
URI: | http://hdl.handle.net/11536/96414 https://www.grb.gov.tw/search/planDetail?id=172275&docId=29275 |
顯示於類別: | 研究計畫 |