鰭狀場效電晶體 (FinFET) 電路之錯誤模型與測試方法

Title:	鰭狀場效電晶體 (FinFET) 電路之錯誤模型與測試方法 Fault Modeling and Test Methods for FinfET Ciricuits
Authors:	趙家佐 Chao Mango Chia-Tso 國立交通大學電子工程學系及電子研究所
Issue Date:	2013
Gov't Doc #:	NSC102-2221-E009-187-MY3
URI:	http://hdl.handle.net/11536/99661 https://www.grb.gov.tw/search/planDetail?id=3086358&docId=415009
Appears in Collections:	Research Plans

APA	趙., & Chao M. Chia-Tso (2013). 鰭狀場效電晶體 (FinFET) 電路之錯誤模型與測試方法. https://www.grb.gov.tw/search/planDetail?id=3086358&docId=415009.
Bibtex	@article{2013鰭狀場效電晶體, title={鰭狀場效電晶體 (FinFET) 電路之錯誤模型與測試方法}, author={趙家佐 and Chao Mango Chia-Tso}, journal={https://www.grb.gov.tw/search/planDetail?id=3086358&docId=415009}, year={2013}, url={https://ir.lib.nycu.edu.tw/handle/11536/99661}, }