鰭狀場效電晶體 (FinFET) 電路之錯誤模型與測試方法

標題:	鰭狀場效電晶體 (FinFET) 電路之錯誤模型與測試方法 Fault Modeling and Test Methods for FinfET Ciricuits
作者:	趙家佐 Chao Mango Chia-Tso 國立交通大學電子工程學系及電子研究所
公開日期:	2013
官方說明文件#:	NSC102-2221-E009-187-MY3
URI:	http://hdl.handle.net/11536/99661 https://www.grb.gov.tw/search/planDetail?id=3086358&docId=415009
顯示於類別：	研究計畫