電阻抗斷層攝影術影像之後處理系統與後處理方法
| dc.citation.patentcountry | TWN | en_US |
| dc.citation.patentnumber | 201801674 | en_US |
| dc.contributor.author | 蔡德明 | zh_TW |
| dc.date.accessioned | 2019-04-11T06:07:37Z | |
| dc.date.available | 2019-04-11T06:07:37Z | |
| dc.date.issued | 2018-01-16 | en_US |
| dc.description.abstract | 一種電阻抗斷層攝影術影像之後處理系統包含處理裝置與後處理裝置，後處理裝置耦接處理裝置。處理裝置用以根據量測數據並透過解算方法產生第一電阻抗斷層攝影術影像。量測數據是利用電阻抗斷層攝影儀器測量。後處理裝置用以接收第一電阻抗斷層攝影術影像，以及透過類神經網路演算法對第一電阻抗斷層攝影術影像進行後處理以產生第二電阻抗斷層攝影術影像。 | zh_TW |
| dc.identifier.govdoc | A61B005/053 | en_US |
| dc.identifier.uri | https://ir.lib.nycu.edu.tw/handle/11536/151428 | |
| dc.language.iso | zh_TW | en_US |
| dc.title | 電阻抗斷層攝影術影像之後處理系統與後處理方法 | zh_TW |
| dc.type | Patents | en_US |