相位雜訊量測電路
| dc.citation.patentcountry | TWN | en_US |
| dc.citation.patentnumber | 201743066 | en_US |
| dc.contributor.author | 陳巍仁 | zh_TW |
| dc.contributor.author | 郭柏毅 | zh_TW |
| dc.date.accessioned | 2019-04-11T06:05:19Z | |
| dc.date.available | 2019-04-11T06:05:19Z | |
| dc.date.issued | 2017-12-16 | en_US |
| dc.description.abstract | 一種相位雜訊量測電路，其是利用數位相位轉換器產生N個相位時脈訊號，並選擇N個相位時脈訊號其中之一，與待量測之一震盪訊號相比較，再透過積分器與比較器之處理，以產生一相位雜訊訊號。其中N個相位時脈訊號彼此間具有相同之頻率但不同之相位，而相位雜訊訊號為震盪訊號中相位雜訊經量化後之一數位訊號，且數位訊號包含雜訊頻譜成分以及雜訊功率大小，以供後續量測。 | zh_TW |
| dc.identifier.govdoc | G01R029/26 | en_US |
| dc.identifier.uri | https://ir.lib.nycu.edu.tw/handle/11536/151410 | |
| dc.language.iso | zh_TW | en_US |
| dc.title | 相位雜訊量測電路 | zh_TW |
| dc.type | Patents | en_US |