製造上瑕疵偵測方法及其系統
| dc.citation.patentcountry | TWN | zh_TW |
| dc.citation.patentnumber | I233031 | zh_TW |
| dc.contributor.author | 曾憲雄 | en_US |
| dc.contributor.author | 陳威州 | en_US |
| dc.contributor.author | 王慶堯 | en_US |
| dc.date.accessioned | 2014-12-16T06:17:20Z | |
| dc.date.available | 2014-12-16T06:17:20Z | |
| dc.date.issued | 2005-05-21 | en_US |
| dc.description.abstract | 本發明提供一種新穎的製造上瑕疵偵測方法，該方法係用以在一個使用多數機器之製程中找尋造成產品瑕疵之主因機器集合(machine set)。本發明之製造上瑕疵偵測方法包括：取得在一製程中與產品製造有關之製造資料；分析該製造資料而產生一機器集合(machine set)之候選名單；其中該機器集合包括與該產品之瑕疵有關之機器；及在該機器集合名單中找尋，產生一瑕疵主因機器集合；其中該瑕疵主因機器集合包括與該產品瑕疵高度相關之機器。 | zh_TW |
| dc.identifier.govdoc | G06F017/30 | zh_TW |
| dc.identifier.govdoc | G06F017/30 | zh_TW |
| dc.identifier.uri | https://ir.lib.nycu.edu.tw/handle/11536/106386 | |
| dc.language.iso | zh_TW | en_US |
| dc.title | 製造上瑕疵偵測方法及其系統 | zh_TW |
| dc.type | Patents | en_US |