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估測逐次漸近類比數位轉換器中數位類比轉換器內電容權重誤差之方法與其應用於校正該逐次漸進類比數位轉換器

dc.citation.patentcountryTWNzh_TW
dc.citation.patentnumber201415807zh_TW
dc.contributor.author洪浩喬en_US
dc.contributor.author謝宗殷en_US
dc.date.accessioned2014-12-16T06:17:45Z
dc.date.available2014-12-16T06:17:45Z
dc.date.issued2014-04-16en_US
dc.description.abstract本發明提出一種估測逐次漸近類比數位轉換器中數位類比轉換器內電容權重誤差之方法,用以估計數位類比轉換器的電容的電容權重誤差。該待校逐次漸近類比數位轉換器包括比較器、電容組、開關組與控制器,其中電容組包括一個具有多個電容的主電容陣列與一個包含多個已知權重電容的子電容陣列,前述主電容陣列包含一輔助電容以及一個電容之間的比例可以成2的冪次方關係的電容陣列,且該輔助電容小於主電容陣列之其他電容,前述子電容陣列電容的已知權重可以成2的冪次方關係。控制器用以控制開關組,依序重複執行主電容陣列的預先充電、將電荷重新分布於主電容陣列與子電容陣列、與主電容陣列及子電容陣列的逐次逼近二元搜尋法,並依所得結果計算主電容陣列內各個電容的電容權重誤差値。所得之該等電容權重誤差値可用以校正該逐次漸近類比數位轉換器的輸出。zh_TW
dc.identifier.govdocH03M001/12zh_TW
dc.identifier.govdocH03M001/42zh_TW
dc.identifier.urihttps://ir.lib.nycu.edu.tw/handle/11536/106564
dc.language.isozh_TWen_US
dc.title估測逐次漸近類比數位轉換器中數位類比轉換器內電容權重誤差之方法與其應用於校正該逐次漸進類比數位轉換器zh_TW
dc.typePatentsen_US

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