先進製程技術之設計與可靠度提昇研究---子計畫三：在後佈局與測試設計所使用之良率改善技術研究(II)

dc.contributor.author	陳宏明	en_US
dc.contributor.author	Chen Hung-Ming	en_US
dc.contributor.department	國立交通大學電子工程學系及電子研究所	zh_TW
dc.date.accessioned	2014-12-13T10:28:32Z
dc.date.available	2014-12-13T10:28:32Z
dc.date.issued	2007	en_US
dc.description.sponsorship	行政院國家科學委員會	zh_TW
dc.identifier.govdoc	NSC96-2220-E009-016	zh_TW
dc.identifier.uri	https://www.grb.gov.tw/search/planDetail?id=1463670&docId=262311	en_US
dc.identifier.uri	https://ir.lib.nycu.edu.tw/handle/11536/88396
dc.language.iso	zh_TW	en_US
dc.title	先進製程技術之設計與可靠度提昇研究---子計畫三：在後佈局與測試設計所使用之良率改善技術研究(II)	zh_TW
dc.title	Yield Improvement Methodologies in Post-Layout Design Flow and Design for Test(II)	en_US
dc.type	Plan	en_US

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