後次微米時代新興電子設計自動化技術之研究---子計畫四：應用計算智慧推理處理後深次微米時代電路設計上的可靠度挑戰(III)
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軟性電子錯誤率 , 製程變異 , 支持向量回歸 , 蒙地卡羅 , 統計靜態時序分析 , soft error , process variation , SVM , Monte Carlo , SSTA