半導體測試區生產排程系統之構建

Date

Authors

CHUNG SHU-HSING

Keywords

生產規劃系統 , 批量大小規劃 , 動態式工件到達 , 半導體測試作業 , 前瞻式方法 , Production planning system , Lot size planning , Dynamic jobs arrival pattern , Semiconductor testing operation , Lookahead method

URI

https://www.grb.gov.tw/search/planDetail?id=208488&docId=37002
https://ir.lib.nycu.edu.tw/handle/11536/95828

Collections

研究計畫;;Research Plans