光源量測系統及其配光曲線量測方法
| dc.citation.patentcountry | TWN | zh_TW |
| dc.citation.patentnumber | I476380 | zh_TW |
| dc.contributor.author | 田仲豪 | en_US |
| dc.contributor.author | 陳柏宇 | en_US |
| dc.contributor.author | 蔡玉麟 | en_US |
| dc.date.accessioned | 2015-05-12T02:59:57Z | |
| dc.date.available | 2015-05-12T02:59:57Z | |
| dc.date.issued | 2015-03-11 | en_US |
| dc.description.abstract | 本發明係揭露一種光源量測系統及其配光曲線量測方法，藉由平面光場(輝度分布)與配光曲線(光強度分布)間的可轉換演算的特性，透過導光板先將光源的配光曲線轉換為平面的光場分布，再根據由影像擷取裝置所取得之平面光場分布進一步透過該轉換演算重建其配光曲線，如此，本發明僅需一次曝光即可獲取光源的輝度分布資訊，且藉由導光板、光擴散膜、影像擷取裝置等即可建立一成本低廉的量測系統，進一步地，本發明更可適用於多組光源裝置的同時量測，進而提高量測系統的效率。 | zh_TW |
| dc.identifier.govdoc | G01J001/02 | zh_TW |
| dc.identifier.govdoc | G01J001/04 | zh_TW |
| dc.identifier.uri | https://ir.lib.nycu.edu.tw/handle/11536/122903 | |
| dc.language.iso | zh_TW | en_US |
| dc.title | 光源量測系統及其配光曲線量測方法 | zh_TW |
| dc.type | Patents | en_US |