跨國頂尖研究中心---國際頂尖異質整合綠色電子研究中心(1/5)

Date

Authors

CHANG EDWARD YI

Keywords

CMOS 積體電路 , 矽及化合物半導體異質整合 , 變異性 , 可靠性 , 鰭式電晶體 , 應變技術 , 元件模型 , CMOS integrated circuits , heterogeneous integration of III-V and silicon , variability , FinFET transistor , strain technique , device modeling

URI

https://www.grb.gov.tw/search/planDetail?id=2848992&docId=403199
https://ir.lib.nycu.edu.tw/handle/11536/99284

Collections

研究計畫;;Research Plans