Ⅲ-V族半導體元件的內連銅導線、銅空氣橋及其製作方法

dc.citation.patentcountryTWNzh_TW
dc.citation.patentnumber200501319zh_TW
dc.contributor.author李承士en_US
dc.contributor.author張尚文en_US
dc.contributor.author張翼en_US
dc.date.accessioned2014-12-16T06:13:44Z
dc.date.available2014-12-16T06:13:44Z
dc.date.issued2005-01-01en_US
dc.description.abstract一種Ⅲ–V族半導體元件的內連銅導線、銅空氣橋及其製作方法,而其內連銅導線適於連接一Ⅲ–V族半導體元件,其結構包括一介電層、數個銅導線以及一擴散阻障層,其中介電層係覆蓋Ⅲ–V族半導體元件,且介電層具有數個開口,暴露出Ⅲ–V族半導體元件,而銅導線係藉由開口該Ⅲ–V族半導體元件電性相連。擴散阻障層則是配置於銅導線與介電層及開口表面之間。本發明因為使用電阻值低及散熱性佳的銅作為連接導線,故可使元件的特性更為優異。zh_TW
dc.identifier.govdocH01L021/768zh_TW
dc.identifier.govdocH01L021/768zh_TW
dc.identifier.urihttps://ir.lib.nycu.edu.tw/handle/11536/104283
dc.language.isozh_TWen_US
dc.titleⅢ-V族半導體元件的內連銅導線、銅空氣橋及其製作方法zh_TW
dc.typePatentsen_US

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