微波退火提升有機電子元件特性之方法
| dc.citation.patentcountry | TWN | zh_TW |
| dc.citation.patentnumber | 200845220 | zh_TW |
| dc.contributor.author | 陳方中 | en_US |
| dc.contributor.author | 葛祖榮 | en_US |
| dc.contributor.author | 林義凱 | en_US |
| dc.date.accessioned | 2014-12-16T06:12:58Z | |
| dc.date.available | 2014-12-16T06:12:58Z | |
| dc.date.issued | 2008-11-16 | en_US |
| dc.description.abstract | 本發明為一種微波退火提升有機電子元件特性之方法,包括下列步驟:提供有機電子元件;以及微波退火有機電子元件。因為微波退火具有非接觸式、退火標的具選擇性、以及退火時間短等特性,且可以僅針對有機電子元件的有機主動層(Organic active layer)退火,使得有機主動層內的有機分子在短時間內重新排列以提高有機分子的排列程度,進而增加光電轉換效率,並提升有機電子元件的特性。 | zh_TW |
| dc.identifier.govdoc | H01L021/324 | zh_TW |
| dc.identifier.govdoc | H01L051/00 | zh_TW |
| dc.identifier.uri | https://ir.lib.nycu.edu.tw/handle/11536/103934 | |
| dc.language.iso | zh_TW | en_US |
| dc.title | 微波退火提升有機電子元件特性之方法 | zh_TW |
| dc.type | Patents | en_US |